Les semi-conducteurs sensibles à une 'usure du silicium'

30/11/07 à 08:00 - Mise à jour à 07:59

Source: Datanews

Des chercheurs ont découvert qu'au bout d'un certain temps, de petites fissures apparaissent dans les semi-conducteurs à base de silicium. Ces petites fissures risquent de provoquer des pannes. Les chercheurs ne savent pas encore si elles sont la conséquence d'une corrosion ou d'une usure mécanique du silicium.

Des chercheurs ont découvert qu'au bout d'un certain temps, de petites fissures apparaissent dans les semi-conducteurs à base de silicium. Ces petites fissures risquent de provoquer des pannes. Les chercheurs ne savent pas encore si elles sont la conséquence d'une corrosion ou d'une usure mécanique du silicium.

Les semi-conducteurs à base de silicium passent toujours pour être insensibles à l'usure mécanique résultant d'une utilisation répétée. Des chercheurs du National Institute of Standards and Technology (NIST) américain ont à présent démontré que les systèmes micro-électromécaniques (MEMS) présentent des fissures après un certain temps d'utilisation.

Ces chercheurs ne savent pas encore si ces fissures sont dues à une corrosion, à un effet chimique ou s'il s'agit de la suite d'un effet mécanique résultant d'une usure lente des microstructures suite à une utilisation répétée.

Cette découverte pourrait avoir des conséquences sur la conception des nouvelles puces à base de silicium. Le matériau semi-conducteur à base de silicium a jusqu'à présent toujours parfaitement réussi les tests d'usure. Le fait que des chercheurs aient aujourd'hui pu démontrer un effet d'usure est dû au fait que leur méthode de test imite mieux les tensions réelles auxquelles les MEMS sont exposés dans la pratique. L'important, selon eux, c'est surtout qu'ils aient fait coulisser les composants les uns le long des autres au lieu de ne leur appliquer qu'une pression.

Les chercheurs ont démontré cet effet sur une échelle de cent micromètres. Dans un stade ultérieur, ils entendent examiner le même effet sur une échelle inférieure.

En collaboration avec Computable

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